Es handelt sich um ein umfassendes Pack-Testsystem, das auf die Tests der Grund- und Schutzeigenschaften von Endprodukten / Halbfertigprodukten in den Produktionslinien für Li-Ionen-Akkus für Mobiltelefone und digitale Produkte sowie auf die Schutz-ICs (unterstützt I2C-, SMBus- und HDQ-Kommunikationsprotokolle) angewendet wird ).
Das Testsystem besteht hauptsächlich aus einem grundlegenden Leistungstest und einem Schutzleistungstest.Der grundlegende Leistungstest umfasst Leerlaufspannungstest, Lastspannungstest, dynamischer Lasttest, Batterieinnenwiderstandstest, Wärmewiderstandstest, ID-Widerstandstest, normaler Ladespannungstest, normaler Entladespannungstest, Kapazitätstest, Leckstromtest;Der Schutzleistungstest umfasst den Ladeüberstromschutztest: Ladeüberstromschutzfunktion, Verzögerungszeitschutz und Wiederherstellungsfunktionstests;Entladeüberstromschutztest: Entladeüberstromschutzfunktion, Verzögerungszeitschutz und Wiederherstellungsfunktionstests;Kurzschlussschutztest.
Das Testsystem verfügt über die folgenden Merkmale: Unabhängiges modulares Design mit einem Kanal und Datenberichtsfunktion, die nicht nur die Testgeschwindigkeit jedes PACKs erhöhen kann, sondern auch einfach zu warten ist;Beim Testen der Schutzzustände eines PACKs muss der Tester in den entsprechenden Systemzustand geschaltet werden.Anstatt ein Relais zu verwenden, verwendet der Tester einen kontaktlosen MOS-Schalter mit hohem Stromverbrauch, um die Zuverlässigkeit des Testers zu verbessern.Und die Testdaten können auf die Serverseite hochgeladen werden, was einfach zu kontrollieren, hochsicher und nicht leicht zu verlieren ist.Das Testsystem liefert nicht nur die Testergebnisse des Speichertestsystems „Lokale Datenbank“, sondern auch den Modus „Server Remote Storage“.Alle Testergebnisse in der Datenbank können einfach exportiert werden.Die „Datenstatistikfunktion“ der Testergebnisse kann verwendet werden, um die „Non-Performing-Rate jedes Testprojekts“ und das „Testbrutto“ jedes PCM-Falls zu analysieren.
Modulares Design: Unabhängiges modulares Design mit einem Kanal für einfache Wartung | Hohe Genauigkeit: die höchste Genauigkeit des Spannungsausgangs ± (0,01 RD + 0,01 % FS) |
Schnelltest: Mit der schnellsten Testgeschwindigkeit von 1,5 s werden die Produktionszyklen deutlich beschleunigt | Hohe Zuverlässigkeit: Kontaktloser MOS-Schalter mit hohem Stromverbrauch zur Verbesserung der Zuverlässigkeit des Testers |
Kompakte Größe: klein genug und leicht zu transportieren | —— |
Modell | BAT-NEPDQ-01B-V016 | |
Parameter | Reichweite | Genauigkeit |
Ladespannungsausgang | 0,1 ~ 5 V | ±(0,01 %RD +0,01 %FS) |
5~10V | ± (0,01 % RD + 0,02 % FS) | |
Ladespannungsmessung | 0,1 ~ 5 V | ±(0,01 %6R.D. +0,01 %FS) |
5~10V | ±(0,01 %RD +0,01 %FS) | |
Ladestromausgang | 0,1 ~ 2A | ± (0,01 % RD + 0,5 mA) |
2-20A | ± (0,01 % RD + 0,02 % FS) | |
Ladestrommessung | 0,1 ~ 2A | ± (0,01 % RD + 0,5 mA) |
2- 20A | ± (0,02 % RD + 0,5 mA) | |
PACK-Spannungsmessung | 0,1 ~ 10 V | ±(0,02 % RD +0,5 mV) |
Entladespannungsausgang | 0,1 ~ 5 V | ±(0,01 %RD +0,01 %FS) |
0,1 ~ 10 V | ± (0,01 % RD + 0,02 % FS) | |
Entladespannungsmessung | 0,1 ~ 5 V | ±(0,01 %RD +0,01 %FS) |
0,1-10 V | ±(0,01 %RD +0,01 %FS) | |
Entladestromausgang | 0,1 ~ 2A | ± (0,01 % RD + 0,5 mA) |
2-30A | ± (0,02 % RD + 0,02 % FS) | |
Entladestrommessung | 0,1~-2A | ± (0,01 % RD + 0,5 mA) |
2-30A | ± (0,02 % RD + 0,5 mA) | |
Leckstrommessung | 0,1-20uA | ± (0,01 % RD + 0,1 µA) |
20-1000uA | ±(0,01 %RD +0,05 %FS) |