Zusammenfassung

Dieses System ist ideal für den PCM-Test des LiS-Akkus 1S-36S mit Elektrowerkzeugen, Gartengeräten, Elektrofahrrädern und Ersatzquellen usw.; angewendet auf die Grund- und Schutz

Eigenschaftenprüfungen von PCM und Parameter herunterladen, vergleichen, PCB-Kalibrierung für Power-Management-ICs (unterstützt I2C, HDQ, SMBUS und andere angepasste Protokolle).

Das Li-Ionen-Akku-Schutzplatinen-Testsystem des Nebula Power kann mit dem Nebula MES-System (Manufacturing Execution System) verwendet werden, um die Testdaten zu steuern und zu verfolgen.

Anwendbarer Bereich

(1) Auf den reinen SEIKO-Systemschutz-IC wie 8244, S8204 usw. anwenden.

(2) Singlechip + SEIKO-Systemschutz-IC.

(3) Schutzplatinen für Li-Ionen-Akkus von Elektrowerkzeugen und Gartengeräten und dergleichen.

(4) Unterstützung des Ladens und Entladens über denselben Anschluss oder getrennte Lade- und Entladeanschlüsse.

(5) 4S-36S Li-Ionen-Akku PCM-Schutzlösungen von Serien-Hardware-IC-Schemata von TI-, O2- und MAXIN-Unternehmen usw.

(6) Unterstützung des Upgrades von simulierten Batterien mit 36 ​​Saiten. Für die simulierten Batterien bilden 4 Strings ein Modul.

Testgegenstände

PCM-Verbrauch

PWM-Ein- und Ausgang

PCM-Temperaturschutz

PCM-Impedanz

PCM-Kurzschluss

UVP / OVP / IO

PCM-Gebühr

PCM-Entladung

IDR / THR

Spezifikationen