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Nebula Mobile Phone Digital Products Akku PCM-Testsystem Ausgewähltes Bild

Akku-PCM-Testsystem für Nebula-Handy-Digitalprodukte

Dieses Gerät wurde entwickelt, um die grundlegenden und schützenden Eigenschaften von Single-Bus-Li-Ionen-Batterieschutzplatinen für 1s- und 2s-Batterien schnell zu bewerten, die ICs der US-TI-Serie verwenden (z. B. BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ2753X).

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MERKMALE

Kompatibel mit einer breiten Palette von Gasanzeige-ICs, die sich durch hohe Präzision und schnelle Testgeschwindigkeit auszeichnen.

Das unabhängige, modulare Mehrkanaldesign erleichtert die Wartung und den Austausch und bietet gleichzeitig umfangreiche Datenberichtsfunktionen.

Mit einem hohen Maß an Genauigkeit ist es die ideale Wahl für unsere anspruchsvollen Kunden.

SPEZIFIKATIONEN

Modell	BAT-NEDQ-04-V010
Parameter	Reichweite	Genauigkeit
Ausgangsspannung	5~5OO0mV	±0,2 mV
Ausgangsstrom	0~3000mA	0,01 % RD ± 0,05 % FS
Konstantstromausgang	30A~50A	20mS
	20A~30A	± 0,05 % RD ± 0,02 % FS
	3A~20A	± 0,01 % RD ± 0,02 % FS
	5mA~3000mA	± 0,01 % RD ± 0,02 % FS
Ladeausgang/ Messspannung	100~5000 mV	± 0,01 % RD ± 0,01 % FS
Ladeausgang/ Messspannung	5000 ~ 10000 mV	± 0,01 % RD ± 0,02 % FS